導(dǎo)電粒子金相顯微鏡量測(cè)著重于高度、高穩(wěn)定度，品智創(chuàng)思銷(xiāo)售的大行程顯微鏡基座采用花崗巖材質(zhì)結(jié)構(gòu)，為了克服環(huán)境震動(dòng)問(wèn)題，采用防震系統(tǒng)，可解決高倍率解析時(shí)的震動(dòng)問(wèn)題，光學(xué)系統(tǒng)采用高清析度影像光學(xué)模塊，人性化的量測(cè)軟件，長(zhǎng)久以來(lái)，作業(yè)者需花費(fèi)時(shí)間進(jìn)行量測(cè)點(diǎn)位搜尋，使用者設(shè)計(jì)機(jī)型，使操作更便利量測(cè)更迅速。

測(cè)量顯微鏡工作原理如下圖所示，被測(cè)工件置于工作臺(tái)上，在底光或表面光照明下，它由物鏡成放大像，經(jīng)過(guò)分光與反射系統(tǒng)后，一路成像于目鏡分劃板上，人眼通過(guò)目鏡可觀察到一個(gè)放大的正像；另一路成像于彩色CCD上，攝像機(jī)攝取工件像后通過(guò)網(wǎng)口傳送至計(jì)算機(jī)及彩色液晶顯示器上，顯示出一個(gè)與工件*同向的放大清晰影像。我們可以通過(guò)目鏡或液晶顯示器對(duì)工件像進(jìn)行瞄準(zhǔn)定位，通過(guò)數(shù)字測(cè)量系統(tǒng)：光柵尺與專(zhuān)業(yè)測(cè)量軟件對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，即光柵尺的信號(hào)與計(jì)算機(jī)主機(jī)通訊，供軟件進(jìn)行測(cè)量和數(shù)據(jù)處理。目視測(cè)量系統(tǒng)還可以利用目鏡分劃板上預(yù)先刻制好的標(biāo)準(zhǔn)圖形對(duì)工件進(jìn)行比較測(cè)量。底光照明光源與顯微鏡自帶表面光源，視工件的性質(zhì)兩種照明可分別使用，也可同時(shí)使用。

微分干涉數(shù)碼顯微鏡是一款性?xún)r(jià)比非常高的檢測(cè)用光學(xué)儀器。導(dǎo)電粒子金相顯微鏡采用的遠(yuǎn)光學(xué)成像系統(tǒng)，內(nèi)置LED高亮度照明器,引入了微分干涉顯微觀察功能。雙目攝影觀察頭，體現(xiàn)了目視觀察的真實(shí)還原，以及數(shù)碼攝影與顯微成像的技術(shù)融合，觀察到的干涉圖像具有更強(qiáng)的立體感，適合于非透明材質(zhì)的表面形態(tài)觀察，如液晶屏導(dǎo)電粒子的顯微形態(tài)。是精密制造領(lǐng)域內(nèi)品質(zhì)檢測(cè)、結(jié)構(gòu)研究的儀器。 
性能特點(diǎn) 產(chǎn)品采用光學(xué)成像系統(tǒng)，可選擇5X、10X、20X等長(zhǎng)工作距離平場(chǎng)消色差無(wú)應(yīng)力物鏡，匹配相應(yīng)的微分 干涉（DIC插板）進(jìn)行不同倍率的顯微觀察；
照明系統(tǒng)采用高亮度、長(zhǎng)工作時(shí)間的LED器件，具有結(jié)構(gòu)緊湊、使用安全等特點(diǎn)，特別適合在線檢測(cè)的環(huán)境要求；采用立柱式高度調(diào)整方式，觀察樣品的厚度范圍更大.

何謂ACF(異方性導(dǎo)電膠)：其特點(diǎn)在于Z軸電氣導(dǎo)通方向與XY絕緣平面的電阻特性具有明顯的差異性。當(dāng)Z軸導(dǎo)通電阻值與XY平面絕緣電阻值的差異超過(guò)一定比值后，既可稱(chēng)為良好的導(dǎo)電異方性。
        貼合工藝：導(dǎo)電粒子在黏合劑中均勻分布,互不接觸,加之有一層絕緣膜,ACF 膜是不導(dǎo)電的,當(dāng)對(duì)ACF膜加壓、加熱后導(dǎo)電粒子絕緣膜破裂,并互相在有線路的部分(因?yàn)檩^無(wú)線路部分突起) 擠壓在一起,形成導(dǎo)通,被擠壓后的導(dǎo)電粒子體積是原來(lái)的3～4 倍(導(dǎo)電粒子體積不變，差別在于原本是球體狀，經(jīng)過(guò)熱壓后變成類(lèi)似圓餅狀，讓上下電極有更多的面積接觸到導(dǎo)電粒子),加熱使黏合劑固化,保持導(dǎo)通狀態(tài)。
        注意點(diǎn)：導(dǎo)電粒子的粒徑分布和分布均勻性亦會(huì)對(duì)異方導(dǎo)電特性有所影響。通常，導(dǎo)電粒子必須具有良好的粒徑均一性和真圓度，以確保電極與導(dǎo)電粒子間的接觸面積一致，維持相同的導(dǎo)通電阻，并同時(shí)避免部分電極未接觸到導(dǎo)電粒子，導(dǎo)致開(kāi)路的情形發(fā)生。常見(jiàn)的粒徑范圍在3~5μm之間，太大的導(dǎo)電粒子會(huì)降低每個(gè)電極接觸的粒子數(shù)，同時(shí)也容易造成相鄰電極導(dǎo)電粒子接觸而短路的情形；太小的導(dǎo)電粒子容易行成粒子聚集的問(wèn)題，造成粒子分布密度不平均。

         在這邊要先說(shuō)明何謂微分干涉差系統(tǒng)：用四個(gè)特殊的光學(xué)組件：偏振器、DIC棱鏡、DIC滑行器和檢偏器。偏振器直接裝在聚光系統(tǒng)的前面，使光線發(fā)生線性偏振。在聚光器中則安裝了石英Wollaston棱鏡，即DIC棱鏡，此棱鏡可將一束光分解成偏振方向不同的兩束光（x和y），二者成一小夾角。聚光器將兩束光調(diào)整成與顯微鏡光軸平行的方向。初兩束光相位一致，在穿過(guò)標(biāo)本相鄰的區(qū)域后，由于標(biāo)本的厚度和折射率不同，引起了兩束光發(fā)生了光程差。在物鏡的后焦面處安裝了第二個(gè)Wollaston棱鏡，即DIC滑行器，它把兩束光波合并成一束。這時(shí)兩束光的偏振面（x和y）仍然存在。后光束穿過(guò)第二個(gè)偏振裝置，即檢偏器。在光束形成目鏡DIC影像之前，檢偏器與偏光器的方向成直角。檢偏器將兩束垂直的光波組合成具有相同偏振面的兩束光，從而使二者發(fā)生干涉。x和y波的光程差決定著透光的多少。光程差值為0時(shí)，沒(méi)有光穿過(guò)檢偏器；光程差值等于波長(zhǎng)一半時(shí)，穿過(guò)的光達(dá)到大值。于是在灰色的背景上，標(biāo)本結(jié)構(gòu)呈現(xiàn)出亮暗差。為了使影像的反差達(dá)到狀態(tài)，可通過(guò)調(diào)節(jié)DIC滑行器的縱行微調(diào)來(lái)改變光程差，光程差可改變影像的亮度。調(diào)節(jié)DIC滑行器可使標(biāo)本的細(xì)微結(jié)構(gòu)呈現(xiàn)出正或負(fù)的投影形象，通常是一側(cè)亮，而另一側(cè)暗，這便造成了標(biāo)本的人為三維立體感，類(lèi)似大理石上的浮雕。